620.3
Р 245
Растровая электронная микроскопия для нанотехнологий : методы и применение / Жу Уэйли и Уанга Жонг Лин (ред.); Иванов С.А. и Домкин К.И. (пер. с англ.); Каминская Т.П. (ред.). — М. : БИНОМ. Лаборатория знаний, 2013. — 582 с.: ил., табл. — Пер. изд.: Scanning microscopy for nanotechnology / ed. by Zhou Weili a. Wang Zhong Lin. [Berlin]: Springer, cop. 2006. Библиогр. в конце гл. Предм. указ.: с. 574-582. — ISBN 978-5-9963-1110-1.

Электронная версия книги